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#1 Le 09/01/2017, à 13:54

ceric

HDD 750Go d'occasion : 8 secteurs défectueux : Est-ce grâve?

Bonjour,
Je viens de lancer un test disk  avec smatcl :

smartctl 6.5 2016-01-24 r4214 [x86_64-linux-4.4.0-57-generic] (local build)
Copyright (C) 2002-16, Bruce Allen, Christian Franke, www.smartmontools.org

=== START OF INFORMATION SECTION ===
Model Family:     Hitachi Deskstar 7K1000
Device Model:     Hitachi HDS721075KLA330
Serial Number:    GTF200P8GDMJSF
LU WWN Device Id: 5 000cca 215c5bdce
Firmware Version: GK8OA70M
User Capacity:    750 156 374 016 bytes [750 GB]
Sector Size:      512 bytes logical/physical
Device is:        In smartctl database [for details use: -P show]
ATA Version is:   ATA/ATAPI-7 T13/1532D revision 1
Local Time is:    Mon Jan  9 12:48:57 2017 CET
SMART support is: Available - device has SMART capability.
SMART support is: Enabled

=== START OF ENABLE/DISABLE COMMANDS SECTION ===
SMART Enabled.

=== START OF READ SMART DATA SECTION ===
SMART overall-health self-assessment test result: PASSED

General SMART Values:
Offline data collection status:  (0x84)	Offline data collection activity
					was suspended by an interrupting command from host.
					Auto Offline Data Collection: Enabled.
Self-test execution status:      (   0)	The previous self-test routine completed
					without error or no self-test has ever 
					been run.
Total time to complete Offline 
data collection: 		(11471) seconds.
Offline data collection
capabilities: 			 (0x5b) SMART execute Offline immediate.
					Auto Offline data collection on/off support.
					Suspend Offline collection upon new
					command.
					Offline surface scan supported.
					Self-test supported.
					No Conveyance Self-test supported.
					Selective Self-test supported.
SMART capabilities:            (0x0003)	Saves SMART data before entering
					power-saving mode.
					Supports SMART auto save timer.
Error logging capability:        (0x01)	Error logging supported.
					General Purpose Logging supported.
Short self-test routine 
recommended polling time: 	 (   1) minutes.
Extended self-test routine
recommended polling time: 	 ( 191) minutes.
SCT capabilities: 	       (0x003f)	SCT Status supported.
					SCT Error Recovery Control supported.
					SCT Feature Control supported.
					SCT Data Table supported.

SMART Attributes Data Structure revision number: 16
Vendor Specific SMART Attributes with Thresholds:
ID# ATTRIBUTE_NAME          FLAG     VALUE WORST THRESH TYPE      UPDATED  WHEN_FAILED RAW_VALUE
  1 Raw_Read_Error_Rate     0x000b   100   100   016    Pre-fail  Always       -       0
  2 Throughput_Performance  0x0005   100   100   054    Pre-fail  Offline      -       0
  3 Spin_Up_Time            0x0007   109   109   024    Pre-fail  Always       -       547 (Average 548)
  4 Start_Stop_Count        0x0012   100   100   000    Old_age   Always       -       94
  5 Reallocated_Sector_Ct   0x0033   100   100   005    Pre-fail  Always       -       8
  7 Seek_Error_Rate         0x000b   100   100   067    Pre-fail  Always       -       0
  8 Seek_Time_Performance   0x0005   132   132   020    Pre-fail  Offline      -       33
  9 Power_On_Hours          0x0012   093   093   000    Old_age   Always       -       53457
 10 Spin_Retry_Count        0x0013   100   100   060    Pre-fail  Always       -       0
 12 Power_Cycle_Count       0x0032   100   100   000    Old_age   Always       -       94
192 Power-Off_Retract_Count 0x0032   100   100   000    Old_age   Always       -       162
193 Load_Cycle_Count        0x0012   100   100   000    Old_age   Always       -       162
194 Temperature_Celsius     0x0002   181   181   000    Old_age   Always       -       33 (Min/Max 6/58)
196 Reallocated_Event_Count 0x0032   100   100   000    Old_age   Always       -       8
197 Current_Pending_Sector  0x0022   100   100   000    Old_age   Always       -       0
198 Offline_Uncorrectable   0x0008   100   100   000    Old_age   Offline      -       0
199 UDMA_CRC_Error_Count    0x000a   200   200   000    Old_age   Always       -       0

SMART Error Log Version: 1
No Errors Logged

SMART Self-test log structure revision number 1
Num  Test_Description    Status                  Remaining  LifeTime(hours)  LBA_of_first_error
# 1  Short offline       Completed without error       00%     53348         -

SMART Selective self-test log data structure revision number 1
 SPAN  MIN_LBA  MAX_LBA  CURRENT_TEST_STATUS
    1        0        0  Not_testing
    2        0        0  Not_testing
    3        0        0  Not_testing
    4        0        0  Not_testing
    5        0        0  Not_testing
Selective self-test flags (0x0):
  After scanning selected spans, do NOT read-scan remainder of disk.
If Selective self-test is pending on power-up, resume after 0 minute delay.

Et ma question est : est-ce que je peux conserver ce hdd?

Dernière modification par ceric (Le 09/01/2017, à 13:55)


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#2 Le 09/01/2017, à 16:19

Laurent85

Re : HDD 750Go d'occasion : 8 secteurs défectueux : Est-ce grâve?

Les disque durs sont conçus avec des secteurs en réserve pour réallouer ceux qui viendraient à être défectueux.

Dès la conception il y a une probabilité que ça arrive pour certains d'entre eux, cela n'a donc rien d'anormal. Par contre je te conseille de consulter régulièrement les données smart du disque. Si tu vois que cela augmente régulièrement ce n'est pas normal c'est le signe d'une dégradation accélérée. Par contre si c'est stable il n'y a pas de raison de s'inquiéter plus que ça.

Il n'y a rien à faire de spécial, c'est le micrologiciel du disque qui s'en charge automatiquement. Pour le système c'est transparent, de son point du vue le disque est toujours à 100% de sa capacité de stockage et tous ses secteurs adressables sont opérationnels.

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#3 Le 09/01/2017, à 19:40

ceric

Re : HDD 750Go d'occasion : 8 secteurs défectueux : Est-ce grâve?

Merci pour ta réponse.


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