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#1 Le 27/09/2018, à 10:49
- chris1935
Testdisk lenteur excessive copie
Grâce à testdisk je peux lire et charger tous les fichiers de mon disque externe,
mais la copie d'une video de 150 Mo prend au moins 5 heures.
Le MBR du disque est bon mais MFT et MFT mirror sont mauvais.
De plus l'utilitaire disque m'indique que le périphérique est du type bloc.
J'ai peur de fusiller mon disque à force de faire des copies.
Y a-t-il quelqu'un de balèze qui pourrait m'éclairer ? Merci d'avance.
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#2 Le 27/09/2018, à 11:34
- Nasman
Re : Testdisk lenteur excessive copie
Problème de lecture de ton support externe (connectique ?)
Problème d'écriture sur le support de destination (connectique ?)
PC fixe sous Bionic 64 bits et portable avec Focal 64 bits
Hors ligne
#3 Le 27/09/2018, à 13:12
- chris1935
Re : Testdisk lenteur excessive copie
Merci Nasman de me répondre.
Je ne pense pas que mes soucis vienne de la connectique, d'autres DD externe marchent sans problème.
En fait, le DD est passé en type bloc pendant que je faisais un transfert de fichier.
Comme la MFT et MFT mirror sont nases d'après testdisk qu'il ne peut pas réparer, peut-être que lorsqu'il charge un élément du fichier à copier, il ne le trouve qu'après avoir cherché dans la MFT.
Qu'en penses-tu ?
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#4 Le 27/09/2018, à 13:51
- erresse
Re : Testdisk lenteur excessive copie
Bonjour,
En-dehors des MFT qui sont nazes, est-ce qu'il n'y aurait pas une dégradation du support lui-même (au niveau du matériel) entraînant des tas de relectures pour arriver à copier quelque chose ?
Je ne sais pas si c'est très indiqué dans ces circonstances, mais peut-être pourrais-tu contrôler l'état du disque avec "smartmontool" ? Mais n'étant pas spécialiste de ce type d'intervention, je ne conseille rien, c'est juste une suggestion...
Plus de 50 ans d'informatique, ça en fait des lignes de commandes en console, mais on n'avait pas le choix...
Excellente raison pour, aujourd'hui qu'on le peut, utiliser au maximum les INTERFACES GRAPHIQUES !
Important : Une fois le problème solutionné, pensez à clore votre sujet en ajoutant [Résolu] devant le titre du 1er message, et un bref récapitulatif de la solution à la fin de celui-ci. Merci.
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#5 Le 27/09/2018, à 14:20
- chris1935
Re : Testdisk lenteur excessive copie
Merci eresse. j'ai fait une recherche avec smartmontool
sudo smartctl -a /dev/sdc
[sudo] Mot de passe de ct :
smartctl 6.6 2016-05-31 r4324 [x86_64-linux-4.15.0-34-generic] (local build)
Copyright (C) 2002-16, Bruce Allen, Christian Franke, www.smartmontools.org
=== START OF INFORMATION SECTION ===
Device Model: WDC WD10SMZW-11Y0TS0
Serial Number: WD-WXK1A47D3254
LU WWN Device Id: 5 0014ee 60797c144
Firmware Version: 01.01A01
User Capacity: 1000171331584 bytes [1,00 TB]
Sector Sizes: 512 bytes logical, 4096 bytes physical
Rotation Rate: 5400 rpm
Form Factor: 2.5 inches
Device is: Not in smartctl database [for details use: -P showall]
ATA Version is: ACS-3 T13/2161-D revision 5
SATA Version is: SATA 3.1, 6.0 Gb/s (current: 6.0 Gb/s)
Local Time is: Thu Sep 27 15:10:38 2018 CEST
SMART support is: Available - device has SMART capability.
SMART support is: Enabled
=== START OF READ SMART DATA SECTION ===
SMART overall-health self-assessment test result: PASSED
General SMART Values:
Offline data collection status: (0x00) Offline data collection activity
was never started.
Auto Offline Data Collection: Disabled.
Self-test execution status: ( 0) The previous self-test routine completed
without error or no self-test has ever
been run.
Total time to complete Offline
data collection: (11580) seconds.
Offline data collection
capabilities: (0x51) SMART execute Offline immediate.
No Auto Offline data collection support.
Suspend Offline collection upon new
command.
No Offline surface scan supported.
Self-test supported.
No Conveyance Self-test supported.
Selective Self-test supported.
SMART capabilities: (0x0003) Saves SMART data before entering
power-saving mode.
Supports SMART auto save timer.
Error logging capability: (0x01) Error logging supported.
General Purpose Logging supported.
Short self-test routine
recommended polling time: ( 2) minutes.
Extended self-test routine
recommended polling time: ( 160) minutes.
SCT capabilities: (0x7035) SCT Status supported.
SCT Feature Control supported.
SCT Data Table supported.
SMART Attributes Data Structure revision number: 16
Vendor Specific SMART Attributes with Thresholds:
ID# ATTRIBUTE_NAME FLAG VALUE WORST THRESH TYPE UPDATED WHEN_FAILED RAW_VALUE
1 Raw_Read_Error_Rate 0x002f 200 190 051 Pre-fail Always - 7
3 Spin_Up_Time 0x0027 161 159 021 Pre-fail Always - 2933
4 Start_Stop_Count 0x0032 098 098 000 Old_age Always - 2217
5 Reallocated_Sector_Ct 0x0033 200 200 140 Pre-fail Always - 0
7 Seek_Error_Rate 0x002e 200 200 000 Old_age Always - 0
9 Power_On_Hours 0x0032 097 097 000 Old_age Always - 2431
10 Spin_Retry_Count 0x0032 100 100 000 Old_age Always - 0
11 Calibration_Retry_Count 0x0032 100 100 000 Old_age Always - 0
12 Power_Cycle_Count 0x0032 099 099 000 Old_age Always - 1203
192 Power-Off_Retract_Count 0x0032 200 200 000 Old_age Always - 718
193 Load_Cycle_Count 0x0032 168 168 000 Old_age Always - 96214
194 Temperature_Celsius 0x0022 108 094 000 Old_age Always - 35
196 Reallocated_Event_Count 0x0032 200 200 000 Old_age Always - 0
197 Current_Pending_Sector 0x0032 200 200 000 Old_age Always - 4
198 Offline_Uncorrectable 0x0030 100 253 000 Old_age Offline - 0
199 UDMA_CRC_Error_Count 0x0032 200 200 000 Old_age Always - 0
200 Multi_Zone_Error_Rate 0x0008 100 253 000 Old_age Offline - 0
SMART Error Log Version: 1
No Errors Logged
SMART Self-test log structure revision number 1
No self-tests have been logged. [To run self-tests, use: smartctl -t]
SMART Selective self-test log data structure revision number 1
SPAN MIN_LBA MAX_LBA CURRENT_TEST_STATUS
1 0 0 Not_testing
2 0 0 Not_testing
3 0 0 Not_testing
4 0 0 Not_testing
5 0 0 Not_testing
Selective self-test flags (0x0):
After scanning selected spans, do NOT read-scan remainder of disk.
If Selective self-test is pending on power-up, resume after 0 minute delay.
codeHors ligne
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